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HSL2 少子寿命分析仪
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HSL2 少子寿命分析仪

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商品描述
 HSL2 少子寿命分析仪

功能特点

符合美国ASTM标准

可测硅片也可测硅块,可增加少子寿命map

无损非接触测量

主要参数

测试范围和精度

可测试材料

单片或块状硅材料

扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极)

少子寿命测试范围

1μs~1000μs

电阻率测试范围

0.1Ωcm

分辨率

5mm

测试不重复度

2%

测试速度

5/

机械参数

微波源

**高:1400mm*1380mm*810mm

工控机

脉冲激光源

使用要求

供电

交流单相,220V/110V±10%20A50/60Hz