功能特点
●符合美国ASTM标准
●可测硅片也可测硅块,可增加少子寿命map图
●无损非接触测量
主要参数
测试范围和精度
可测试材料
单片或块状硅材料
扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极)
少子寿命测试范围
1μs~1000μs
电阻率测试范围
≥0.1Ωcm
分辨率
5mm
测试不重复度
≤2%
测试速度
5秒/点
机械参数
微波源
长*宽*高:1400mm*1380mm*810mm
工控机
脉冲激光源
使用要求
供电
交流单相,220V/110V±10%,20A,50/60Hz