功能特点

●符合美国ASTM标准

●可测硅片也可测硅块，可增加少子寿命map图

●无损非接触测量

主要参数

测试范围和精度

可测试材料

单片或块状硅材料

扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极)

少子寿命测试范围

1μs~1000μs

电阻率测试范围

≥0.1Ωcm

分辨率

5mm

测试不重复度

≤2%

测试速度

5秒/点

机械参数

微波源

长*宽*高：1400mm*1380mm*810mm

工控机

脉冲激光源

使用要求

供电

交流单相，220V/110V±10%，20A，50/60Hz