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HSL1少子寿命分析仪
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HSL1少子寿命分析仪

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商品描述
HSL1少子寿命分析仪

功能特点

测试原理采用国际公认的微波反射光电导衰退法拥有国家发明专利(专利号:ZL2003 1 0108310.7

选用脉冲能量充足、波长适合的专业激光器为激发源,性能可靠稳定

方便直观的操作过程,步骤简单

主要参数

测试范围和精度

可测试材料

硅片或块状硅材料

扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极)

少子寿命测试范围

(1~1000)μs

电阻率测试范围

≥0.1Ω·cm

测试不重复度

≤5%(测试条件不变时)

测试速度

2/

机械参数

微波源

10Kg; 465mm()*230mm()*470mm()

工控机

20Kg; 500mm()*400mm()*170mm()

脉冲激光源

10Kg; 350mm()*130mm()*450mm()

使用要求

供电

220VAC±10%, 20A, 50/60Hz,单相电